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X射線/CT掃描植物根系分析系統—RootViz FS
植物根系X射線-CT掃描成像分析系統是將軟組織X射線技術商業化，成功研發的一套新型、高效率、高精度、非破壞性的測量系統，用于對盆栽植物的根系進行原位成像分析，可以拍攝根系的立體X射線照片，并且可以在植物生長的不同階段對根系的生長進行長期動態監測。本套系統現研究開發了Q型和R型培養容器根系成像的模型算法，Q型容器培養的植物成像時間3-4min/盆，R型容器培養的植物成像時間4-5min/盆，每天可成像100多盆。這套系統非常適合于研究植物根系對脅迫的動態響應，最大可對株高2.0m，根系深達1.0 m的植株進行分析，獲得詳細的根部結構數據。
目前，平臺已完成了對玉米和小麥的預實驗，下一步將會對水稻，大豆，棉花，西紅柿等作物根系表型實驗。平臺可服務內容涉及根系生長發育的動態監測，不同品種間根系的差異、根系系統分類、根系對脅迫響應等領域。
測量參數
?總根長和總投影面積；
? 可獲取5種以上不同等級根系分布圖片以及不同等級根系的根長和投影面積；
? 不同深度根系分布的位置；
? 不同深度根系的直徑；
? 不同深度根系分布的密度。
服務內容 各種植物苗期至成熟期的栽培管理、X-射線根系表型成像及數據分析與整理。
服務周期 根據每個實驗的具體情況（提供的材料和實驗方案設計等）而定，數天至數月不等。
服務特點 您可以提供實驗材料及處理方法，我們就能給您提供掃描成像原圖、分析圖與數據。
應用案例
